粉粒体の特性を正しく評価するためには、粒度分布の精確な測定が不可欠です。粒度分布測定装置の専業メーカーとして、Sympatec社は最先端の技術を駆使し、革新的かつ高信頼性の測定装置を開発しています。あらゆる試料や用途に対応するために、レーザー回折法、動的画像解析法、超音波減衰法、動的光散乱法に基づいた測定装置をラインアップしています。これらを活用することで、1nm未満から 30mm以上の広範な粒子径（Sympatec英語サイトへ）をカバーするだけでなく、ある範囲では粒子形状（Sympatec英語サイトへ）をも測定可能です。Sympatec社の測定装置の用途は、オフラインの実験室向けだけに留まりません。それを自動化したラボオートメーション（アットライン）や、プロセス中（インライン/オンライン）でのリアルタイム測定など、様々な自動化技術も展開しています。

各測定技術の物理的測定原理は、機器の設計に決定的な影響をもたらします。製品に応じたアプリケーションごとに、調整が容易なモジュラー型アーキテクチャが組み込まれているため、調査対象をシステムに適合させるための複雑な準備を行う必要はありません。私たちの目的は、一次粒子の状態を測定することです。これは、レーザー回折式HELOSおよび動的画像解析式QICPIC用の様々な分散機とフィーダーのオプション等を使用することによって実現されます。測定部は測定機の中核です。その光学系は、交換可能なレンズ(オプション)、分散機、およびフィーダーの構成概念を定義します。すべてのシステムコンポーネントと周辺機器（Sympatec英語サイトへ）を管理するソフトウェアも、中央システムアーキテクチャの一部です。ソフトウェアは、使用されているすべての測定技術で共通のプラットフォームです。

レーザー回折、動的画像解析、動的光散乱はすべて、信頼性の高い測定結果を実現するために、光学的に透明な粒子濃度を必要とする光学的方法です。音響法である超音波減衰は、光学的に不透明な懸濁液や乳剤を、希釈する手間をかけずに元の状態で測定可能にします。すべての測定技術は同じ基本原理に従って測定します。光または音波は分散した個々の粒子と相互作用し、その相互作用から分散粒子システムの物理的特性に関する情報を提供します。